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淺析顯微顆粒圖像分析儀的使用注意事項
時間:2018-03-23 點擊次數:1586
顯微顆粒圖像分析儀測試原理:
通過對顆粒數量和每個顆粒所包含的像素數量的統計,計算出每個顆粒的等圓面積和等球體積,從而得到顆粒的等圓面積直徑、等球體積直徑以及長徑比等,再對所有的顆粒進行統計,從而得到粒度分布等信息。
顯微顆粒圖像分析儀適用領域:
1、研磨材料:金剛石、碳化硅、碳化硼、白剛玉、氧化鈰等。
2、電池材料:球形石墨、鈷酸鋰等。
3、用于驗證其他粒度測試的手段和方法。
使用顆粒圖像分析時應注意的事項:
⒈取放顆粒圖像分析時動作一定要輕,切忌震動和暴力,否則會造成光軸偏斜而影響觀察,而且光學玻璃也容易損壞。
⒉由于物鏡的螺絲口容易損傷,安裝物鏡時要特別小心,即先向左方倒轉一小段,凹凸雙方吻合后再向右方旋轉,不要轉的太緊,輕輕捻到頭,再稍緊即可。
⒊鏡檢標本應嚴格按照操作程序進行,觀察時要從低倍鏡開始,看清標本后再轉用高倍鏡、油鏡。
⒋使用油鏡時一定要在蓋玻片上滴油后才能使用。油鏡使用完后,應立即將鏡頭、蓋玻片上的油擦干凈,否則干后不易擦去,以致損傷鏡頭和標本。但應注意二甲苯用量不可過多,否則,物鏡中的樹膠溶解,透鏡歪斜甚至脫落,蓋玻片移動甚至連同標本一起融掉。
⒌顆粒圖像分析使用時不可用手摸光學玻璃部分,如需擦拭應嚴格按照光學部件擦拭辦法。
⒍顆粒圖像分析使用的蓋玻片和載玻片不能過厚或過薄。標準的蓋玻片為0.17±0.02毫米,載玻片為1.1±0.04毫米。過厚或過薄將會影響顯微鏡成像及觀察。
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